Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit
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Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit, Springer Vieweg
Maßnahmen der nächsten Generation unter Verwendung formaler Techniken
Von Sebastian Huhn, Rolf Drechsler, im heise shop in digitaler Fassung erhältlich
Produktinformationen "Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit"
In diesem Buch werden mehrere neue Ansätze vorgestellt, die den Weg für die
nächste Generation integrierter Schaltungen ebnen, die auch in
sicherheitskritischen Anwendungen erfolgreich und zuverlässig integriert werden
können. Die Autoren beschreiben neue Maßnahmen zur Bewältigung der steigenden
Herausforderungen im Bereich des Designs für Testbarkeit, Fehlersuche und
Zuverlässigkeit, die für moderne Schaltungsentwürfe unbedingt erforderlich sind.
Insbesondere werden in diesem Buch formale Techniken wie das Satisfiability
(SAT)-Problem und das Bounded Model Checking (BMC) kombiniert, um die
entstehenden Herausforderungen in Bezug auf die Zunahme des Testdatenvolumens,
die Testanwendungszeit und die erforderliche Zuverlässigkeit zu bewältigen. Alle
Methoden werden detailliert diskutiert und unter Berücksichtigung von
industrie-relevanten Benchmark-Kandidaten ausführlich evaluiert. Alle Maßnahmen
wurden in ein gemeinsames Framework integriert, das standardisierte
Software/Hardware-Schnittstellen implementiert.
Einführung.- Integrierte Schaltungen.- Formale Techniken.- Eingebettete
Kompressionsarchitektur für Testzugriffsports.- Optimiertes SAT-basiertes
Retargeting für eingebettete Kompression.- Rekonfigurierbare TAP-Controller mit
eingebetteter Kompression.- Eingebettete mehrkanalige Testkompression für Tests
mit geringer Pin-Anzahl.- Erhöhte Zuverlässigkeit durch formale Techniken.-
Fazit und Ausblick.
Artikel-Details
- Anbieter:
- Springer Vieweg
- Autor:
- Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
- Artikelnummer:
- 9783031453199
- Veröffentlicht:
- 02.01.24